近日，中导光电在半导体检测装备领域再获双重突破。凭借自主可控、国际对标的纳米级光学检测技术，公司成功开拓两家实力客户、打入新应用市场，斩获客户新产线订单，标志着公司在半导体高端检测装备赛道的市场拓展再迈关键一步。

本次新增订单聚焦半导体前道检测与半导体出货检测两大高成长赛道，均为公司面向新客户、新场景的规模化落地应用。在半导体制造流程中，缺陷检测是保障芯片良率与性能的核心环节，前道工艺检测与中后道出货检测覆盖从晶圆制造到成品交付的全流程关键质量节点，二者覆盖了半导体从生产到交付的关键检测环节。

Nano-Pro 1xx 系列：适用于 110-180 纳米制程，支持多尺寸晶圆，双 Port 晶圆上下料系统助力高效运作，支持高精度、多通道检测，兼容明暗场检测，还具备缺陷数据统计与分析功能，AI算法和软件自主研发，可满足定制化需求，适配不同生产场景。

应用于半导体多制程出货检缺陷检测，覆盖正面、边缘、背面，多倍率镜头组合（1.5x 至 10x），支持选配与自动拍照，全面捕捉缺陷；灵活定制：支持 ADC 功能和软件功能客制化服务，可根据企业独特生产需求灵活调整，适配不同半导体制造流程，助力企业精准把控产品质量。

此次订单突破，是中导光电长期技术攻坚与产品迭代的市场化成果，更是国产高端检测装备与国际领先厂商正面竞争、实现替代的重要印证。客户在综合评估技术、交付与供应链安全后，首次选用国产供应商，充分认可中导光电的技术实力与方案竞争力。

本次突破将进一步完善公司半导体客户矩阵与市场布局，持续强化在高端检测装备领域的领先地位。未来，中导光电将继续深耕半导体核心检测装备，加速关键设备国产化替代进程，以自主创新技术与可靠交付能力，助力我国半导体产业链供应链自主可控。