近日，中导光电再次斩获碳化硅（SiC）重要客户8英寸纳米级晶圆检测设备重复订单，此次订单的落地，既是客户对产品性能与服务质量的高度认可，也标志着中导光电在8寸SiC检测设备领域的核心竞争力持续凸显，进一步巩固了其在国产SiC设备领域的行业地位。

作为第三代半导体材料的核心代表，SiC凭借宽带隙、高击穿电场、高热导率等优异特性，广泛应用于新能源汽车、5G通信、智能电网等高端领域，而8英寸SiC晶圆相较于传统6英寸产品，在产能、成本控制上具备显著优势，已成为全球SiC产业转型升级的核心方向，同时也对配套检测设备的精度、稳定性与效率提出了更高要求。此次中标设备为中导光电自主研发的NP1系列产品，专门适配8英寸SiC晶圆前道制程缺陷检测，可实现纳米级微小缺陷的快速识别与精准判定，有效助力客户提升晶圆良率、降低生产成本。

值得关注的是，此次并非双方首次合作，此前中导光电NP1系列设备已两次成功交付该客户并投入量产，凭借设备95%以上的国产化率、稳定的运行表现以及高效的交付服务，赢得了客户的充分信赖。此次重复订单的达成，充分印证了中导光电NP1系列产品在检测效率、数据追溯性等核心指标上已达到行业领先水平，可完全满足头部客户规模化量产的核心需求。

中导光电深耕半导体高端检测设备领域十余年，始终坚持自主创新，聚焦SiC设备“卡脖子”环节持续攻关，其NP1系列产品集成多项核心专利技术，引入先进AI缺陷识别算法，不仅在性能上可与国际顶尖同类产品对标，还具备更高的性价比与本土化服务优势，能够快速响应客户的个性化需求与产线适配调整。此前，公司已多次实现8寸SiC设备订单突破，此次重复订单的落地，进一步验证了其产品的市场竞争力与口碑，也彰显了国产SiC检测设备逐步实现进口替代的良好态势。